Zergatik neurtzen du MLCC batek bere baloratutako kapazitateren azpitik?

MLCC batek gainetik 10 µF markatuta egon daiteke, baina LCR metro batek edo benetako zirkuituak nabarmen txikiagoa den kapazitatea erakutsi dezake. Honek ezin du beti esan kondentsadorea akastuna denik, tolerantzia, DC desgaitzea, AC probako tentsioa, maiztasuna, tenperatura, zahartzaroa eta dielektriko mota guztiak balioa eragiten duten faktorak dira. Neurtzeko konfigurazioa ere garrantzitsua da, batez ere LCR metroaren ezarpenak eta ekipamenduaren konpentsazioa. Artikulu honek azaltzen du zergatik neurtzen duen MLCC batek bere baloratutako kapazitateren azpitik eta nola neurtu eta baloratu behar den bere eraginkor kapazitatera zuzen.

Katalogoa

Irudia 1. MLCC-k baloratutako kapazitateraren esanahia

Zer esan nahi du baloratutako kapazitaterak MLCC baterako?

MLCC baten baloratutako edo nominal kapazitatera osagaiari esleitutako kapazitatera balioa da, hala nola 100 nF, 1 µF, edo 10 µF. Parte zenbakian edo datu-orrian agertzen den balioa da eta zehaztutako kapazitateren tolerantziarako erreferentzia gisa balio du. Muratak honek kondentsadorearen balio nominala bezala deskribatzen du. _[2]

Beraz, nominal kapazitatera fabrikatzailearen erreferentzia balioa da. Neurtutako edo eraginkor kapazitatera benetako balioa baldintza desberdinetan desberdina izan daiteke, ondoren azaltzen diren ataletan.

Kapazitateren tolerantzia eta hasierako balioaren aldaketa

Irudia 2. Tolerantzia eta hasierako balioaren aldaketa

MLCC-ren kapazitateren tolerantziak definitzen du nola desberdintzen den neurtutako kapazitatera nominal baliotik fabrikatzaileak zehaztutako baldintzetan probatuta. Tolerantzia kode arruntak J = ±5%, K = ±10%, eta M = ±20% dira, nahiz eta tolerantzia estuagoak, hala nola ±1% eta ±2%, zenbait kondentsadore mota baterako ere eskuragarri dauden. TDK-k kode tolerante hauek bere MLCC katalogo ofizialean zuzenean zerrendatzen ditu. _[3]

Adibidez, ±20% tolerantzia duen 10 µF-ko MLCC batek 8 µF eta 12 µF arteko hasierako kapazitatera onargarria izan dezake. ±10% tolerantzia duen 10 µF-ko parteak 9 µF eta 11 µF bitartekoa izan dezake, eta ±5% tolerantziak 9.5 µF eta 10.5 µF artean uzten du.

Tolerantzia hasiera hau funtzionamendu baldintzen ondorioz gertatutako aldaketetatik bereiztu behar da. Tolerantziagatik nominalaren azpitik hasten den kondentsadore batek DC desgaitzeak, tenperaturak, zahartzaroak edo neurtzeko baldintza desberdinek efektu kapazitatero eragindako galera galdu dezake. Adibidez, 10 µF ±20% MLCC berri batetik 9.2 µF neurtzeak ez du berez seinale bat adierazten, 9.2 µF oraindik bere onartutako hasierako tartean baitago. Beraz, datu-orrian agertzen den tolerantzia lehenengo kontsultatu beharko da, espero baino txikiagoa den kapazitateren beste kausak ikertu aurretik. _[2][3]

Nola murrizten du DC desgaitzeak MLCC kapazitatera

DC bias-a kondentsadorearen gainean aplikatutako DC tentsio bat da. DC-bias ezaugarriak tentsio hori handitzen den heinean, kapazitatzaren eraginkortasuna nola aldatzen den deskribatzea da. Jarrera hori materialetako dielektrikoen tentsioarekiko menpekotasunetik dator, zeinetan dielektriko konstante handiko zeramika materialak erabiltzen diren. Dielektrikoaren gainean elektrizitate-eremua handitzen den heinean, bere dielektriko eraginkorra txikiagoa izan daiteke, eta horrek kapazitaterik jaitsiko du. _[1][4]

Dielektriko mota	DC-bias jarrera	Normalean, DC tentsioa handitzen doan heinean
C0G / NP0	Oso txikia edo, funtsean, ez	Kapazitategia nahiko estable mantentzen da
X5R	Aurkitu	Kapazitategia eraginkorra jaitsi egiten da
X7R	Aurkitu	Kapazitategia eraginkorra jaitsi egiten da
Beste Class II motak	Oro har, aurkitu	Murrizketa dielektrikoaren eta kondentsadorearen diseinuaren araberakoa da

Taula oharra: Dielektriko kodifikazioa bakarrik ez du zehatz-mehatz erakusten zein kapazitategi galduko den.

Kapazitategi murrizketa ez da berdina izango X5R edo X7R MLCC guztientzat. DC-bias ezaugarria kondentsadore bereziaren diseinuaren araberakoa da, beraz, dielektriko kodeak ez du erabilgarri izango gelditzen den kapazitategia kalkulatzeko. Ekoizlearen ezaugarri datuak zehaztutako zatitxo numbrerako egon behar dira, erabiltzeko tentsio zehatzarekin.

Adibidez, 10 µF X7R MLCC batek 10 µF baino askoz gutxiago eman lezake DC tentsio bat aplikatuz. Murrizketa, adierazitako tentsioa handitzen doan heinean, handiagoa izan daiteke, baina 10 µF X7R kondentsadore guztientzat erabil daitekeen ehuneko unibertsala ez dago. Hurbilketa zehatzena ekoizlearen DC-bias ezaugarri kurba zehatzari begiratzea da, eta helburuko tentsioan kapazitategi eraginkorra irakurtzea. _[1][4]

Nola eragiten duten AC probako tentsioak eta neurtzeko frekuentziek kapazitagerari

LCR metro batek kapazitategia neurtzen du definitutako AC probako tentsio eta neurtzeko frekuentzia batean. Ekoizlearen zehaztutako baldintzetatik desberdinak badira, neurtutako balioa datu orrian agertzen den kapazitategiarekin bat ez etor daiteke. Hori bereziki garrantzitsua da metro edo probako konfigurazio desberdinen neurtzeak alderatzean. _[2][4][5]

TDKk MLCC kapazitategi neurtzeko baldintza orokorrak ematen ditu:

MLCC klasea / kapazitategia	Neurtzeko frekuentzia	AC probako tentsioa
Klase I, ≤ 1.000 pF	1 MHz ±10%	0,5 eta 5 Vrms
Klase I, > 1.000 pF	1 kHz ±10%	0,5 eta 5 Vrms
Klase II, ≤ 10 µF	1 kHz ±10%	1,0 ±0,2 Vrms
Klase II, > 10 µF	120 Hz ±20%	0,5 ±0,2 Vrms

Oharra: TDKk 1 kHz ±10% erabiltzen du 1,0 ±0,2 Vrms Klase II MLCCetarako 10 µF arte, eta 120 Hz ±20% 0,5 ±0,2 Vrms Klase II MLCCetarako 10 µF gainetik. Produktu zehatzaren zehaztapenak lehentasuna du. [5]

Kondentsadorearen impedantziak metrogileak entregatzen duen tentsioa eragiten du. Kondentsadore ideal baterako, kapazitibo impedantziaren magnitudea da:

|ZC| = 1 / (2πfC)

non f frekuentzia den hertsioetan, C kapazitategia faradetan, eta |ZC| impedantzia ohmietan. Harreman hau kondentsadorearen auto-resonantzia frekuentziaren azpitik funtzionatzen duen iragazkia da eta praktika eraginkortasunak, hala nola, ekuivalentzia serie erresistentzia (ESR) eta ekuivalentzia serie induktantzia (ESL) alde batera uzten ditu.

Adibidez, 1 kHz-tan kondentsadore ideal 10 µF batek ditu:

|ZC| ≈ 15,9 Ω

Impedantzia nahiko baxu honek LCR metroaren iturriaren karga dezake. TDKk ohartarazten du, kapazitaterik handiko MLCCekin, kondentsadorearen impedantzia baxuak eta metrogilearen barruko impedantziak kondentsadorearen gainean aplikatutako AC tentsioa hautatutako probako mailatik behera jaisten direla, eta horrek kapazitategi irakurketaren beherakada ekar dezake.

MLCC bat datu-orriaren balioaren kontra egiaztatzerakoan, erabili ezarritako frekuentzia eta AC probako tentsioa, eta berretsi behar duzu beharrezko seinalea benetan kondentsadoreari iristen dela. _[5][6]

Tenperaturaren Eraginak MLCC Kapazitategian

Irudi 3. Tenperaturaren Eraginak MLCC Kapazitategian

MLCCren kapazitategia aldatzen da bere tenperatura igotzean edo jeistean. Ekoizleek jarrera hau tenperaturaren ezaugarri kode baten bidez deskribatzen dute, zeinak zehaztutako tenperatura eremuan onartutako kapazitategi aldaketa definitzen duen. Aldaketa honen magnitudea eta forma kondentsadorearen barruan erabiltzen den zeramika dielektrikoarekiko oso menpekoa da. _[3][7]

Tenperatura kodea	Klasea	Funtzionamenduko tenperatura eremua	Tenperatura koefizientea edo onartutako kapazitategi aldaketa
C0G	Klase I	−55°C eta +125°C	0 ±30 ppm/°C
X5R	Klassen II	−55°C etik +85°C-ra	±15%
X7R	Klassen II	−55°C etik +125°C-ra	±15%

Oharriza: EIA Klassen II tenperatura ezaugarriak 25°C-ri erreferentzia egiten diote. _[7]

Altuera nagusiena dielektrikoaren materialetik dator. Klase Iko C0G MLCCek tenperatura-konpentsatzen duen zeramika bat erabiltzen dute, zeinaren kapazitatega tenperaturaren arabera aldakuntza txikia, ia lineala, ote den. Klase IIko MLCCek bario titanatuz osatutako dielektriko-konstante altuko materialak erabiltzen dituzte, zeinaren dielektriko-konstantea tenperaturarekin gehiago eta linealki ez den aldatu. Honek Klase IIko kondentsadoreei kapazitatega askoz handiagoa emateko aukera ematen die pakete txiki batean, baina tenperaturako egonkortasun txikiagoarekin. _[7][9]

Tenperatura kodeak irizpide onartua definitzen du, ez kondentsadore bakoitzaren zehaztutako kapazitatega kurba. Bi X7R MLCCk ±15% zehaztapenari eutsi diezaiokete, tenperaturaren arabera kapazitatega desberdinak erakutsiz, fabrikatzaileek dielektriko formulazio eta barne diseinu desberdinak erabiltzen dituztelako. _[3][7]

Tenperatura DC biasarekin batera kontuan hartu behar da. X5R edo X7Rko ±15% kalifikazioak, zehaztutako estandar baldintza hauen arabera, tenperatura ezaugarriari buruz hitz egiten du. Funtzionamendu zirkuituan, aplikatutako DC tentsioa kapasitatega murriztu dezake aldi berean, beraz, kapazitatega eraginkorra tenperatura kodeak adierazten duena baino behera egin dezake. Diseinu zehatzerako, egiaztatu fabrikatzailearen tenperatura eta DC-bias kurbak zehaztutako pieza zenbakiari dagokionez. _[1][2]

Zahartzea eta Ikerketa Luzerako Kapazitatega Galera

Irudia 4. Zahartzea eta Ikerketa Luzerako Kapazitatega Galera

Zahartzea ferroelectrik Klasse IIko MLCCetan gertatzen den kapazitatega pixkanaka murriztea da, zeramika bere Curie tenperaturatik beherako epeldu ondoren. TDKk azaltzen du zahartzea ferroelectrik dielektriko materialen ezaugarri natural bat dela eta denboraren poderioz haien kristal egituran izaten diren aldaketen ondorioz. [8]

Murrizketa denbora logaritmikoa da. Fabrikatzaileek normalean zahartze-tasa adierazten dute galdu den kapazitategaren ehunekotan, hamarkada bat iraupen denboraren hamarren bat irudikatuz, hala nola 10etik 100 ordura edo 100etik 1.000 ordura. [8]

Dielektriko mota	Zahartze portaera	Ikerketa luzerako kapazitatega portaera
C0G / NP0, Klase I	Funtsean ez da zahartzeari	Denborarekin oso egonkor
X5R, Klase II	Zahartzea gertatzen da	Kapazitatega pixkanaka murrizten da
X7R, Klase II	Zahartzea gertatzen da	Kapazitatega pixkanaka murrizten da
Beste ferroelectrik klase IIko motak	Zahartzea orokorrean gertatzen da	Zahartze-tasa dielektriko sistemaren arabera aldatu daiteke

Taula-oharra: Zahartze-tasa norma gisa bereizita adierazten da eta ezin da zehaztu X5R edo X7R kodearen bidez bakarrik.

Zahartzea itzulgarri da de-zahartze bidez, zeinaren bidez dielektrikoa bere Curie tenperaturatik gorako tenperaturan berotzen denean eta ferroelectrik egitura berrezartzen denean. Kondentsadorea Curie tenperaturatik beherako epeldu ondoren, zahartze prozesua berriro hasten da.

Printzipio hau ez da kapazitore ezezaguna berotzeko orokorreko irizpidetzat hartu behar. De-zahartze tenperatura eta iraupena fabrikatzailearen gida zehatza etengabetako marka zehatzari edo dielektriko sistemari dagokionez etorri behar da. TDKren adierazitako berotze tratamendua aplikatzen da produktu eta irizpide horien arabera, eta ez da unibertsala dela uste izan behar. _[8]

Kapazitatega neurtzeko, kondentsadorearen azken egokitze berotzearen ondorengo denbora emaitzan eragina izan dezake. TDKk azken berotegia (TOLH) izendatzen dio. Zahartzea, hortaz, neurtutako edo eraginkorra den kapazitatega aldatzen duten beste eraginen ondoren kontuan hartu behar da. _[5][8]

Nola Eragiten Du Dielektriko Motak Kapazitatega Egunerokotasunean?

Dielektriko motak MLCC batek tenperatura, denbora, tentsio eta neurrizko baldintzen aldaketak nola eraginkorrago irauteko funtsezko faktoreetako bat da. Zeramika kondentsadoreak klase I eta klase II motatan banatzen dira orokorrean. Klase hauek material dielektriko desberdinak erabiltzen dituzte eta, horrenbestez, zirkuitu batean desberdin jokatzen dute. _[9]

Ezaugarri	C0G / NP0	X5R	X7R
Zeramikako klase	Klase I	Klase II	Klase II
Tenperatura tartea	Orokorrean −55°C-tik +125°C-ra edo altuagoa, piezaren arabera	−55°C etik +85°C-ra	−55°C etik +125°C-ra
Tenperaturako egonkortasuna	Oso altua	±15%	±15%
DC-bias efektua	Funtsean ez	Eraginkorra den kapazitatega murriztu dezake	Eraginkorra den kapazitatega murriztu dezake
Zahartzea	Esentzialki ez	Egoera	Egoera
Kapazitibitate dentsitatea	Beherago	Handi	Handi
Tasunaren erabilera	Denborazko, doikuntza, iragazketa, bat etortzea, zehaztasun zirkuituak	Deskonexioa, iragazketa, berdintzea	Deskonexioa, iragazketa, berdintzea

C0G/NP0 aukeratu kapazitibitate zehaztasuna eta egonkortasuna handitzea handik kapazitibitate altua lortu baino garrantzitsuagoak direnean. X5R edo X7R aukeratu kapazitibitate dentsitate handiagoa behar denean, baina egiaztatu fabrikatzailearen karakteristika-datuak, kondentsadoreak funtzionatzeko baldintza nahiak betetzen dituela baieztatzeko. X7R-k ere tenperatura tarte altuagoa onartzen du X5R baino.

Dielektrikoen alderaketarako, ikus gure gida C0G eta X7R kondentsadoreen desberdintasunak.

LCR Metroaren Ezarpenak eta MLCC Kapazitibitatea Zehatz Meatzeko Moduak

Kapazitibitate irakurketak datu-orriarekin egoki alderatzeko, neurri MLCCa zehaztutako baldintzetan hartu eta probako ezarpena zaindu.

1. Identifikatu MPN zehatza eta datu-orriaren berrikuspena.

Berretsi fabrikatzailearen parte-zenbakia eta erabili datu-orri edo produktu-espezifikazio aplikagarria. Ez fidatu soilik MLCC irakurketa orokorren ezarpenekin.

Parte-zenbakia eskuragarri ez badago, ikusi markarik gabe MLCC bat nola identifikatu LCR irakurketaren bat identifikatzeko tratatu aurretik.

2. Isolatu MLCCa paralelo circuito bideetatik.

Kondentsadorea PCB batean muntatuta badago, beste kondentsadoreek edo paraleloan konektatutako circuito bideek irakurketan eragin dezakete. Isolatu osagaia, MLCC bakoitzaren neurketa behar denean.

3. Idatzi azken berotzaren tenperatura eta denbora.

Kontuan hartu kondentsadorea tenperatura eta, klase II MLCCentzat, azken berotzaren denborari (TOLH) buruzko informazioa, zahartzea kapazitibitatean eragin baitezake.

4. Aukeratu zehaztutako maiztasuna eta AC probako maila.

Erabili produktu-espezifikazioan adierazitako neurtzeko maiztasuna eta AC tentsioa. Atal 4-n eztabaidatutako TDKko baldintza orokorrak soilik erabili behar dira zehaztutako parterako aplikagarriak badira.

5. Aukeratu egokiena den Cp edo Cs neurtzeko modua.

TDK-k aholku bat ematen du 10 kΩ baino goragoko kondentsadore inpedantziarako Cp erabiltzeko eta 10 Ω baino beherago Cs erabiltzeko. Inpedantzia tarte hauen artean, erabili osagaien espezifikazioa eta tresna gidalerroa egokia den ekuivalentzia-zirkuitu-eredua aukeratzeko.

6. Egin OPEN eta SHORT konpentsazioa fixture planean.

Konexio bera, probako hobiak edo aletuak erabiliko direnak DUT-rako, konexio planean konpentsazioa egin. OPEN konpentsazioak ez diren paralelo onarpenak zuzentzen ditu, bitartean SHORT konpentsazioak ez diren serie inpedantziak zuzentzen ditu.

7. Aktibatu ALC edo baliokide maila kontrola.

LCR metroak Automatikoki Maila Kontrola (ALC) edo maila monitorizatzeko aukera badu, aktibatu egoki denean. Hori bereziki erabilgarria da kapazitibitate handiko, inpedantzia baxuko MLCCentzat, metro iturri kargatzen baitute.

8. Berretsi DUT inguruan benetako Vrms.

Ez ondorioztatu metroan hautatu den tentsioa MLCC-ra iristen den tentsioa dela. Egin metroaren maila monitorizatu edo erabili neurtzeko metodo egokia kondentsadorearen inguruan benetako AC tentsioa baieztatzeko.

9. Idatzi kapazitibitatea eta xahutze faktorea.

Proba-baldintzak egonkorretan daudenean, idatzi neurtutako kapazitibitatea eta xahutze faktorea (DF) maiztasunarekin, AC tentsioarekin, ekuivalentzia-zirkuitu modua, tenperatura eta beste pertinentziako baldintza batzuekin batera.

10. Alderatu emaitza zehaztutako tolerantzarekin.

Alderatu neurtutako kapazitibitatea osagaien nominal balioarekin eta tolerantzarekin fabrikatzaileak zehaztutako baldintza berberak erabiliz. Irakurketa tolerantziatik kanpo bada, lehenik berretsi probako maiztasuna, AC maila, Cp/Cs modua, konpentsazioa, benetako DUT tentsioa, tenperatura eta zahartze-baldintzak MLCCa hutsik dagoela ondorioztatu aurretik.

Kontuan hartu TDK C1608X5R1A106K080AC, 10 µF ±10%, 10 V, X5R, 0603 MLCC. TDK-k egungo produktu orriak balio hauek baieztatzen ditu eta 10%ko maximo xahutze faktorea zehazten du.

TDKk 2016ko urtarrilaren 3an datatutako karakterizazio orri bat argitaratzen du, MPN zehatz honetarako DC-bias kurba batekin. Orriak berariaz adierazten du bere ezaugarri datuak aldatu daitezkeela eta TDKren online ezaugarri grafikoak erreferentzia datatzat hartu behar direla, produktu ezaugarri ziurtatzaile gisa baino. Beraz, DC-bias kurba portaera tipiko gisa tratatu beharko da, eta kapaskuntza nominalaren tolerantzia eta beste zehaztapenen muga ziurtatutako balioak izango dira zehaztutako neurriteko baldintzen ar under.

Errepikagarri den konparaketa hau ezar daiteke:

Proba elementua	Errepikapenerako baldintza / jakinarazitako informazioa
Zehatza MPN	TDK C1608X5R1A106K080AC
Fabrikatzaile erreferentzia	TDK Karakterizazio Orriak, 2016ko urtarrilaren 3a
Metro	Keysight E4980A 001 aukerarekin, edo DC-bias eta maila-monitorizazio gaitasunarekin batera, zehaztasuneko LCR metro bat
Ekipoa	Keysight 16034E SMD ekipoa, 1.6 × 0.8 mm osagaietarako egokia eta E4980Arekin bateragarria
Kalibrazio egoera	Metroaren kalibrazio ziurtagiriaren zenbakia eta kalibrazio data idatzi. TDKk ez du argitaratutako kurbarako erabiltzen den ekipamenduaren kalibrazio egoera ezagutzen.
Musikaren ekivalentea modua	Errepikapenerako, erabili Cs-D eta mantendu modua aldatu gabe iragazketan. 10 µF eta 1 kHz-n, erreaktibotasun ideala 15.9 Ω-inguru da, eta hori Cp/Cs arau sinpleeko mugen artean dago, beraz, Cs-D TDKren modu jatorrizkoaren inguruko baieztapen bat baino, probako aukera bat da.
Frekuentzia	1 kHz ±10%, TDKren II. klaseko MLCCentzat orokorrean aplikatzen den baldintza bat mugatzen du 10 µF-ra arte eta barne.
Agindutako AC maila	1.000 Vrms
Neurtutako AC maila	Idatzi neurtutako Vrms DUT-en gainean bias pausoka, metroaren maila monitor edo voltimetro egokiren bidez. Neurri bat ere ez da jakinarazten hemen, banku independentearen probarik egin ez delako. TDKk ohartarazten du osziladorearen ezarpena eta DUTaren benetako tentsioa desberdinak izan daitezkeela.
ALC	ON, DUTaren maila benetakoa monitorizatuta. TDKk ALC edo pareko maila kontrola gomendatzen du MLCC handien neurrien zehaztasunerako.
DC-bias iragazketa	Errepikapenerako, erabili 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, eta 10 VDC, 10 V irabazi eta gainditu gabe. Idatzi benetako DC maila cada pauson.
Tenperatura	Eman proba laborategiko tenperatura definitu batean, esate baterako 25°C, eta idatzi neurtutako tenperatura. TDKren karakterizazio orrialde publikoak ez du DC-bias kurbarako erabiltzen den tenperatura zehatzik adierazten.
Azken berotasunetik igarotako denbora	Idatzi laginaren ezaguna den TOLH. Ez badago ezagutzen, TOLH ezezaguna adierazi, balio bat irudikatzea baino. Ez berotu kapasitorea TOLH berri bat ezartzeko besterik gabe, ekoizlearen onetsitako prozedura bat aplikatzen ez den arte.
Errepetatutako irakurraldiak	Adibidez, irakurketa estabilizatu ondoren, bost irakurraldi egin bias pausoka eta gu harreta guztiko kapacitance eta DF balioak gorde. TDKren kurba publikoak ez du errepikatu neurtzen.
Jakinarazi diren kopuruek	Bias pausoka, kapasitazioa, disoluzio faktorea, benetako AC Vrms, benetako DC bias, tenperatura eta irakurketa zenbakia idatzi.
Neurketa ezegonkortasuna	Idatzi benetako ekipoarentzat kalkulatutako ezegonkortasun bat. Ez tratatu E4980Aren 0.05%ko zehaztasun oinarrizkoa neurrik gabeko ezegonkortasun oso gisa. Barne hartu aplikagarria den metroaren zehaztasuna, euskarriaren ekarpena, kalibrazio egoera, tentsio-mailako akatsa, eta behatutako errepikagarritasuna.

Errepikatu neurriek TDKren argitaratutako DC-bias karakterizazio kurbarekin konparatu daitezke. Ez ezarri zehaztasuneko ehunekoa kapasitance galera grafikoaren irudikatzean. Balorazio zenbakidunak behar badira, erabili TDKren deskargako ezaugarri datuak edo beste fabrikatzaile batek emandako iturri zenbakiduna. Argitaratutako DC-bias kurba portaera tipiko/referentea irudikatzen du eta ez da berak ±10%ko ziurtatutako efikazia kapasitibitatearen muga DC biasen azpian.

0 V DC biasan, neurtutako kapasitazioa 10 µF ±10% tolerantziaren zehaztapenarekin konparatu daiteke, baldin eta zehaztutako neurtzeko baldintzak betetzen badira. DC bias ez zero batean, konparatu neurtutako joera TDKren ezaugarrizko kurbarekin, baina mantendu DC-bias ezaugarri tipikoa ziurtatutako kapasitazio nominalaren tolerantziatik bereizi.

Zatiak zehaztutako proba baldintzetan tolerantziatik behera mantentzen bada, aztertu MLCC porrot moduak estaltzen dituzten mekanismoak.

Erreferentzia

Murata Manufacturing Co., Ltd. “DC tentsioa zeramikazko kondentsadoreei aplikatzen zaienean kapazitategia aldatzen al da? Kapazitategiaren aldaketei buruz kontuan hartu beharreko puntu batzuk al daude?”

Murata Manufacturing Co., Ltd. “Zer dela-eta ezin da lortu nominal kapazitategiaren balioa?”

TDK Corporation. “TDK MLCC Katalogo Zenbakiaren Deskribapena.”

Murata Manufacturing Co., Ltd. “Kondentsadore elektrostatikoko tentsio ezaugarriak.”

TDK Corporation. “Nola neurtu ditzaket kapazitategia eta disipazio faktorea zuzenean?”

TDK Corporation. “Nola izan daiteke neurgailu batek ezarritako tentsiotik diferentea ematea?”

Murata Manufacturing Co., Ltd. “Zer da zeramikazko kondentsadoreen tenperatura ezaugarriak?”

TDK Corporation. “Zer da MLCC ‘Aging’?”

Murata Manufacturing Co., Ltd. “Zer da diferença altu dielektroikoa (X5R/X6S/X7R etab.) eta tenperatura konpentsatzaileko motaren (C0G/U2J etab.) ezaugarrien eta aplikazioen artean?”

TDK Corporation. “Zer da neurrien erroreen konpenstazioa, eta zergatik da beharrezkoa?”